Título
La validez de la aproximación de Kirchoff en microscopía de superficies
Autor
J. FELIX AGUILAR VALDEZ
Colaborador
EUGENIO RAFAEL MENDEZ MENDEZ (Asesor de tesis)
Nivel de Acceso
Acceso Abierto
Materias
Resumen o descripción
En esta tesis se plantea, primeramente, el problema de esparcimiento de ondas electromagnéticas por superficies unidimensìonales, de perfil arbitrario. Se encuentra que para ondas S-polarizadas, incidiendo sobre una supeficie perfectamente conductora, el problema consiste, esencialmente, en determinar la derivada normal del cam o eléctrico sobre la superficie. Se deriva una ecuación integral cuya solución deltermina la condición (lg frontera y se describe un método que permite hallar numéricamente dicha solucion. Se presenta la teoría de formación de imágenes en un microscopio óptico de barrido. Mediante algunas simphficaciones reducimos el problema de formación de imágenes a un problema de esparcimiento. Utilizando estos resultados, se simula numéricamenteun microscopio debarrido, yresolviendo el problema de esparcimiento por medio del método descrito, se obtienen imá enes de superficies con diferentes perfiles (escalones, depresiones y elevaciones). Las imágenes obtenidas de esta manera son comparadas con las imágenes obtenidas usando la aproximación de Kirchhoff para la condición de frontera. De este estudio se concluye, principalmente, que la aproximación de Kirchhoff tiene un rango de validez más amplio de lo previsto. Sin embargo esta aproximación no es válida cuando la supeficie puede dar lugar a esparcimiento múltiple.
Editor
CICESE
Fecha de publicación
1989
Tipo de publicación
Tesis de maestría
Recurso de información
Formato
application/pdf
Idioma
Español
Sugerencia de citación
Aguilar Valdez, J. F.1989.La validez de la aproximación de Kirchoff en microscopía de superficies.Tesis de Maestría en Ciencias. Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Baja California.94 pp.
Repositorio Orígen
Repositorio Institucional CICESE
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