Título
ESPECTROSCOPÍA DE SEGUNDO ARMÓNICO POR REFLEXIÓN EN SILICIO ESTRESADO
Autor
Oscar Rodolfo Muñiz Sánchez
Colaborador
RAMON CARRILES JAIMES (Asesor de tesis)
Nivel de Acceso
Acceso Abierto
Materias
Resumen o descripción
"En esta tesis se presenta el diseño y elaboración de un sistema óptico típico capaz de realizar espectroscopia de la generación de segundo armónico por reflexión considerando su anisotropía rotacional, en un amplio rango de longitudes de onda. Por medio de dicho sistema se obtuvo la respuesta de una muestra de Silicio estresado con orientación cristalina (001) y ángulo ’miscut’ de 5 grados hacia (110) con longitudes de onda en el rango de 700-790 nm, en la combinación de polarización Sin Pout a un ángulo de incidencia de 45 grados, se observó una resonancia típica del Silicio que confirma la funcionalidad del sistema óptico y la sugerencia de una dependencia por parte del estrés en las mediciones."
Fecha de publicación
abril de 2017
Tipo de publicación
Tesis de maestría
Recurso de información
Formato
application/pdf
Idioma
Español
Cobertura
León, Guanajuato
Audiencia
Público en general
Sugerencia de citación
Muñlz Sánchez, (2017). "Espectroscopía de segundo armónico por reflexión en Silicio estresado". Tesis de Maestría en Ciencias (Óptica). Centro de Investigaciones en Óptica, A.C. León, Guanajuato. 55 pp.
Repositorio Orígen
REPOSITORIO INSTITUCIONAL DEL CIO
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