Título

ESPECTROSCOPÍA DE SEGUNDO ARMÓNICO POR REFLEXIÓN EN SILICIO ESTRESADO

Autor

Oscar Rodolfo Muñiz Sánchez

Colaborador

RAMON CARRILES JAIMES (Asesor de tesis)

Nivel de Acceso

Acceso Abierto

Resumen o descripción

"En esta tesis se presenta el diseño y elaboración de un sistema óptico típico capaz de realizar espectroscopia de la generación de segundo armónico por reflexión considerando su anisotropía rotacional, en un amplio rango de longitudes de onda. Por medio de dicho sistema se obtuvo la respuesta de una muestra de Silicio estresado con orientación cristalina (001) y ángulo ’miscut’ de 5 grados hacia (110) con longitudes de onda en el rango de 700-790 nm, en la combinación de polarización Sin Pout a un ángulo de incidencia de 45 grados, se observó una resonancia típica del Silicio que confirma la funcionalidad del sistema óptico y la sugerencia de una dependencia por parte del estrés en las mediciones."

Fecha de publicación

abril de 2017

Tipo de publicación

Tesis de maestría

Formato

application/pdf

Idioma

Español

Cobertura

León, Guanajuato

Audiencia

Público en general

Sugerencia de citación

Muñlz Sánchez, (2017). "Espectroscopía de segundo armónico por reflexión en Silicio estresado". Tesis de Maestría en Ciencias (Óptica). Centro de Investigaciones en Óptica, A.C. León, Guanajuato. 55 pp.

Repositorio Orígen

REPOSITORIO INSTITUCIONAL DEL CIO

Descargas

2153

Comentarios



Necesitas iniciar sesión o registrarte para comentar.