Título
Diseño de circuitos digitales robusto a variaciones de proceso
Autor
CARLOS ALBERTO SANABRIA DIAZ
Colaborador
VICTOR HUGO CHAMPAC VILELA (Asesor de tesis)
Nivel de Acceso
Acceso Abierto
Materias
Logic desig - (DISEÑO LÓGICO) Computer-aided circuit desig - (DISEÑO DE CIRCUITOS) Circuit optimisation - (OPTIMIZACIÓN DE CIRCUITOS) Tolerance analysis - (ANÁLISIS DE TOLERANCIA) Statistical analysis - (ANÁLISIS ESTADÍSTICO) CIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA - (CTI) FÍSICA - (CTI) ELECTRÓNICA - (CTI)
Resumen o descripción
El escalamiento tecnológico es la principal tendencia para el aumento del desempeño de los circuitos integrados. Este escalamiento ha permitido una mayor densidad de integraci ón con la posibilidad de implementar circuitos más complejos a un menor costo. Sin embargo, la reducción de tamaño de los transistores ha provocado que las imperfecciones del proceso de fabricación se manifiesten en variaciones pequeñas de sus parámetros físicos. La variaciones de los parámetros en los transistores afecta las características eléctricas y por ende el desempeño de los circuitos integrados. Si bien muchas de estas variaciones son modeladas y compensadas antes de la fabricación, existe un componente aleatorio que causa que las características eléctricas de los circuitos como el retardo se comporten como una variable aleatoria determinada por una función de probabilidad. Este comportamiento aleatorio ha obligado a los diseñadores a implementar técnicas de optimización para aumentar la robustez frente a este tipo de variaciones. Estas técnicas de optimización se basa principalmente en el redimensionamiento de los componentes del circuito para disminuir la sensibilidad frente a las variaciones. Estas técnicas están enfocadas en el análisis y la optimización de todos los elementos del circuito frente a variaciones de procesos totalmente independientes dada su facilidad de implementación. La utilización de estas técnicas de optimización puede causar grandes incremento en el área de penalización y no contemplan las relaciones espaciales entre las variaciones de los parámetros.
Editor
Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica
Fecha de publicación
febrero de 2015
Tipo de publicación
Tesis de maestría
Recurso de información
Formato
application/pdf
Idioma
Español
Audiencia
Público en general
Sugerencia de citación
Sanabria-Diaz C.A.
Repositorio Orígen
Repositorio Institucional del INAOE
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413