Título

Optimización en el análisis de fourier con patrones de franjas normalizadas

Autor

JOSE FEDERICO CASCO VASQUEZ

Colaborador

CARLOS IGNACIO ROBLEDO SANCHEZ (Asesor de tesis)

MAURICIO ORTIZ GUTIERREZ (Asesor de tesis)

Nivel de Acceso

Acceso Abierto

Licencia

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0

Materias

Medición - (LCC) Medidas ópticas--Investigación - (LCC) Reconstrucción de imágenes--Modelos matemáticos - (LCC) Difracción - (LCC) Análisis de Fourier--Investigación - (LCC) CIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA - (CTI)

Resumen o descripción

"La metrología óptica es un área de desarrollo cuyo principal objetivo es medir algunas propiedades de objetos como su tamaño, forma, entre otras características; sin alterar o afectar al objeto debido a que se utilizan técnicas sin contacto físico, es decir, sólo se utiliza la luz como una forma de contacto óptico. Gracias al desarrollo de nuevo equipo como computadoras, software de procesamiento de imágenes más robustos, láseres, cámaras CCDs, etc, se ha mejorado la precisión de los sistemas de medición. Es por esto que el interés por la metrología óptica ha ido creciendo y actualmente se tienen aplicaciones de ella en áreas diversas como la medicina, la industria, la ciencia [1], etc."

Benemérita Universidad Autónoma de Puebla

Fecha de publicación

enero de 2014

Tipo de publicación

Tesis de doctorado

Recurso de información

https://hdl.handle.net/20.500.12371/6166

Formato

application/pdf

Idioma

Español

Audiencia

Público en general

Repositorio Orígen

Repositorio Institucional de Acceso Abierto RIAA-BUAP

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