Título

Comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba: su contribución a la innovación tecnológica nacional

Metric behavior of patents granted in Cuba: its contribution to the national technological innovation

Autor

Maidelyn Díaz Pérez

Raudel Giráldez Reyes

Humberto Andrés Carrillo-Calvet

Proyecto

Financiador

Programa VLIR, Red Universitaria de Cooperación del Consejo Inter Universitario Flamenco (VLIR), específicamente al proyecto International Projetc “Fortalecimiento del papel de las TIC en las universidades cubanas para el desarrollo de la sociedad”, Cuba-Bélgica.

Programa de fondeo

Nivel de Acceso

Acceso Abierto

Identificador alterno

doi: 10.22201/iibi.24488321xe.2017.nesp1.57893

Resumen o descripción

Los estudios métricos de patentes desde finales del pasado xx son una valiosa herramienta de vigilancia científica tecnológica y de innovación, convirtiéndose en instrumento indispensable para conocer el comportamiento tecnológico internacional. Sin embargo, los estudios patentométricos no son aplicados óptimamente por todos los países, ni por todos los organismos internacionales, tampoco son aprovechadas todas las potencialidades que ofrecen estos estudios para conocer los diferentes contextos de las innovaciones tecnológicas de un país. Este artículo tiene como objetivo analizar el comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba, aplicando una metodo logía propia que describe las principales innovaciones científico-tecnológicas patentadas por la Oficina Cubana de Propiedad Industrial. La metodología propuesta utiliza el software proIntec para la descarga, normalización, procesamiento, análisis y visualización de los datos procedentes de las patentes, y se aplica un amplio grupo de indicadores métricos relacionales y complejos, así como técnicas de redes sociales para visualizar los principales comportamientos de las innovaciones tecnológicas cubanas. Los resultados finales manifiestan las potencialidades de los estudios métricos de patentes, al poder representar los desarrollos tecnológicos del país y sus contribuciones al sistema de ciencia e innovación tecnológica nacional.

Editor

Universidad Nacional Autónoma de México. Instituto de Investigaciones Bibliotecológicas y de la Información

Fecha de publicación

2017

Tipo de publicación

Artículo

Versión de la publicación

Versión publicada

Formato

application/pdf

Fuente

Investigación Bibliotecológica: archivonomía, bibliotecología e información (0187-358x) vol. 31. Número especial de bibliometría, 271-289 (2017).

Idioma

Español

Relación

http://rev-ib.unam.mx/ib/index.php/ib/issue/viewIssue/4468/216

Cobertura

MX

Repositorio Orígen

Repositorio Institucional del Instituto de Investigaciones Bibliotecológicas y de la Información de la Universidad Nacional Autónoma de México

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