Author: EDUARDO MARTINEZ GUERRA

Policristales y películas delgadas del sistema ferroeléctrico PbxSr1-xTiO3

Eduardo Martínez Guerra (2004)

El impacto tecnológico que puede significar el uso de las películas ferroeléctricas ha propiciado un gran esfuerzo científico por determinar la relación entre los métodos de síntesis de las películas con sus propiedades microestructurales y eléctricas. Esta tesis se enfoca al estudio del sistema PbxSr1-xTiO3 en forma de policristal y película delgada obtenido por el método cerámico convencional y por la técnica de Erosión Iónica respectivamente, del cual existe una incipiente investigación hasta el momento. Este estudio pretende lograr un mejor entendimiento de los fenómenos físicos que ocurren en los sistemas ferroeléctricos, además de lograr optimizar sus propiedades y así proponerlo como un buen material en el mundo de los materiales ferroeléctricos. El primer objetivo de la tesis esta dirigido a la optimización de las propiedades cristalinas en los sistemas policristalinos (x=0.4, 0.5 y 0.6), y con ello establecer la relación entre el proceso de obtención y las propiedades estructurales y físicas de cada sistema. El Envejecimiento, la Fatiga, la Retención y el Pregrabado Ferroeléctrico (Imprint) son fenómenos que se discuten para describir la dinámica de inversión de dominios (Domain Switching) y establecer el origin de los mecanismos de degradación ferroeléctrica. El segundo objetivo de la tesis se enfoca al crecimiento de películas delgadas a partir de los sistemas cerámicos Pb0.5Sr0.5 TiO3 y Pb0.6Sr0.4 TiO3 sobre substratos policristalinos de LSCO/Si y altamente texturados de LSCO/SrTiO3 y LSCO/MgO. Las características ferroeléctricas se estudian a través de los sistemas capacitivos Pt/PST/LSCO/STO, Pt/PST/LSCO/MgO y Pt/PST/LSCO/Si. Se discute sobre la inflriencia de utilizar substratos texturados y policristalinos en los mecanismos de degradación eléctrica. Tanto en forma de policristal como de película delgada, se investiga la relación entre las propiedades eléctricas del sistema PbxSr1-xTiO3 (parámetros de polarización, campo coercitivo, degradación de las propiedades ferroeléctricas, etc.) con las características microestructurales ( cristalinidad, orientación, defectos estructura de dominios, composición, etc.) además de su relación con el método de síntesis.

The potential use of ferroelectric thin films has promoted important scientific efforts to precisely determine the relationships between the synthesis and processing of the films with their microstructure and properties. This thesis is focused to the non-very studied PbxSr1 -x TiO3 system as polycrystal and thin film form to get a better understanding of the physical phenomenons that occurs in the ferroelectric systems besides to get sorne advances to improve its ferroelectric properties and so to propose it as a good material in the ferroelectric materials field. The first goal of the thesis is directed to the optimization of the crystalline properties in the polycrystalline systems (x=0.4, 0.5 and 0.6), for the understanding of the relationships between the preparations processes and the structural and physical properties of each -system. Aging, Fatigue, Retain and Imprint are phenomenons that are discussed to describe the dynamic of domain-switching and the origin of ferroelectric degradation mechanisms. The second goal of this thesis is focused to the growth of thin films from Pb0.5Sr0.5 TiO3 and Pb0.6Sr0.4TiO3 ferroelectric ceramics, deposited by the ion-sputtering technique on polycrystalline (LSCO/Si) and highly textured (LSCO/SrTiO3 and LSCO/MgO) electrodes. The influence of using polycrystalline and textured substrates on the electrical degradation mechanisms is also discussed. In both, polycrystals and thin films, we investigate the relation between the electrical properties of PbxSr1-x TiO3 system (polarization parameters, coercive field, degradation of ferroelectric properties, etc.) with the microstructural characteristics (crystallinity, orientation, defects, domain structure, composition, etc.), besides their relation with the synthesis methods.

Doctoral thesis

Películas delgadas ferroeléctricas, Policristales, Películas delgadas - Propiedades eléctricas CIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA FÍSICA OTRAS ESPECIALIDADES FÍSICAS OTRAS ESPECIALIDADES FÍSICAS

crecimiento de películas delgadas carbonáceas a través de la técnica de depósito de vapores químicos asistido por plasma.

EDUARDO MARTINEZ GUERRA (2017)

El carbono, elemento fundamental desde un contexto universal, cobra vital importancia debido a sus diversas propiedades y estructuras moleculares, consecuencia de las hibridaciones y características químicas únicas que presenta.

Article

Hibridación BIOLOGÍA Y QUÍMICA QUÍMICA QUÍMICA ORGÁNICA CARBONO

Antagonismo de dos ascomicetos contra Phytophthora capsici Leonian, causante de la marchitez del chile (Capsicum annuum L.)

Antagonism of two ascomycetes against Phytophthora capsici Leonian, causing wilt of pepper (Capsicum annuum L.)

ROBERTO ULISES RAMOS SANDOVAL JUANITA GUADALUPE GUTIERREZ SOTO RAUL RODRIGUEZ GUERRA SERGIO MANUEL SALCEDO MARTINEZ CARLOS EDUARDO HERNANDEZ LUNA HUGO ALBERTO LUNA OLVERA JUAN FRANCISCO JIMENEZ BREMONT SAUL FRAIRE VELAZQUEZ ISIDRO HUMBERTO ALMEYDA LEON (2010)

"En esta investigación se evaluó la actividad antagónica y protección de plántulas in vitro del ascomiceto Xylaria poitei, y la actividad antagónica de éste en combinación con un ascomiceto desconocido (AD) contra P. capsici, causante de la marchitez del chile. Xylaria poitei protegió plántulas de chile y permitió la sobrevivencia de un 58.3% de las plántulas, mientras que el oomiceto causó 100% de mortandad; además este hongo inhibió el crecimiento micelial de P. capsici hasta un 49.6% en uno de los experimentos donde se establecieron confrontaciones duales. En confrontaciones triples ambos ascomicetos incrementan ligeramente su inhibición a los 12 días de establecida la confrontación contra P. capsici; y aún mantienen la inhibición del oomiceto cuatro días después. Ambos ascomicetos estimulan o inhiben su crecimiento en alguna fecha de evaluación durante la confrontación entre ellos. El medio líquido papa dextrosa expuesto al crecimiento de X. poitei (filtrado) tiene baja actividad contra el crecimiento micelial de P. capsici. Los resultados anteriores indican que la actividad antagónica de ambos ascomicetos contra P. capsici se incrementa cuando ambos crecen en forma combinada respecto a las confrontaciones duales, y sugieren que la actividad antagónica de X. poitei es estimulada por la presencia del oomicete."

"In this study we evaluated the antagonistic activity and protection of seedlings in vitro of the ascomycete Xylaria poitei, and its antagonistic activity in combination with an unknown ascomycete (AD) against P. capsici, the cause of wilt in pepper. Xylariapoitei protected pepper seedlings and allowed 58.3% survival of seedlings, while the oomycete caused 100% mortality, besides this fungus inhibited the mycelial growth of P. capsici up to 49.6% in one of the experiments where they settled dual confrontations. In triple confrontations both ascomycetes increase slightly their inhibition at 12 days of confortation against P. capsici, and still maintain the inhibition of the oomycete four days later. It was observed that both ascomycetes stimulare or inhibit each other growth at some time during the evaluation of confortation. The potato dextrose liquid medium exposed to the growth of X. poitei (filtrate) has low activity against the mycelial growth of P. capsici. The above results indicate that the antagonistic activity of both ascomycetes againstbP. capsici increases when they grow in combination with respect to the dual confrontations, and suggest that the antagonistic activity of X. poitei is stimulated by the presence of the oomycete."

Article

Xylaria poitei Ascomiceto desconocido Protección de plántulas de chile BIOLOGÍA Y QUÍMICA CIENCIAS DE LA VIDA BIOLOGÍA VEGETAL (BOTÁNICA) FITOPATOLOGÍA