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Sensado de materiales con estructuras de microondas

ROSARIO PEÑALOZA DELGADO (2018)

En este trabajo se describe el diseño de un sensor para medir permitividad dieléctrica compleja de materiales con microondas. Este circuito es basado en tecnologías novedosas de la literatura; guías de onda integradas en sustrato (Substrate Integrated Waveguide “SIW”), método de perturbación de cavidad (Cavity perturbation technique “CPT”) y epsilon cercano a cero (Epsilon near zero, “ENZ”). Este nuevo sensor utiliza una guía de onda integrada en sustrato para la caracterización de las propiedades dieléctricas. La estructura es miniaturizada usando la técnica de Epsilon Near Zero. Esta técnica ya ha sido reportada. Sin embargo, se demuestra que se puede obtener una estructura con alto Q aumentando el espesor del túnel y modificando el acoplamiento externo. Además, esta estructura está diseñada para ser reconfigurable a dos frecuencias de 2.4 GHz y 3.5 GHz mediante el uso de interruptores de metal líquido, donde los resultados experimentales son muy similares a los valores reportados en la literatura para las muestras medidas.

In this work describes the design of a measure the complex dielectric permittivity of materials with microwaves. This circuit is sensor to based on novel technologies of literature; integrated substrate waveguide "SIW", cavity disturbance technique "CPT" and Epsilon near zero "ENZ". This novel sensor using substrate integrated waveguide is presented for dielectric properties characterization. The structure is miniaturized using Epsilon Near Zero technique. This technique has already been reported. However, it is demonstrated that a high Q structure can be obtained by increasing the tunnel thickness and modifying the external coupling. In addition, this structure is designed to be reconfigurable to two frequencies 2.4 GHz and 3.5 GHz by using liquid metal switches. Cavity perturbation technique is used to measure the dielectric permittivity of some liquids, where the experimental results are very close to the values reported in the literature for the measured samples.

Master thesis

CIS- Maestría en Ingeniería Eléctrica (Instrumentación y Sistemas Digitales) INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA CIENCIAS TECNOLÓGICAS INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA ELÉCTRICAS Permitividad dieléctrica compleja - Medición SIW (Guías de Onda Integradas en Sustrato) CPT (Método de Perturbación de Cavidad) Sensores para medir permitividad dieléctrica compleja – Diseño Estructuras de microondas Complex dielectric permittivity - Measurement SIW (Substrate Integrated Waveguide) CPT (Cavity Perturbation Technique) Sensor to Measure the complex dielectric permittivity – Design Microwave structures