Título

Películas delgadas de CdTe/CdS/ITO: CARACTERIZACIÓN DE CdTe/CdS DEPOSITADAS POR BAÑO QUIMICO/CSSSR

Autor

ALMA ROCIO RIVERA GOMEZ

Colaborador

JOSE ALBERTO DUARTE MOLLER

Resumen o descripción

Se depositaron películas delgadas de CdS sobre substratos de vidrio/ITO (portaobjetos/estaño dopado con indio) utilizando la técnica de depósito por baño

químico sin agitación. Las condiciones de depósito fueron las siguientes: A una temperatura de baño constante de 70°C. las soluciones utilizadas: CdCl2 0.05M,

KOH 0.5M, Na3C6H5O7 0.5M y SC(NH2)2 0.5M, preparadas a temperatura ambiente utilizando agua desionizada hasta completar un volumen de 100 ml. El

tiempo de depósito fue de 90 min. Se realizó la caracterización morfológica y elemental a través de UV, MEB, EDS y AFM, determinándose las propiedades

ópticas (transmisión, gap de energía) y el espesor, además se calculó el tamaño de grano por medio del WSxM SPM Software. El método de depósito por baño

químico proporciona películas adherentes y con propiedades ópticas y de gap de energía, con un crecimiento de tipo VOLMER-WEBER. Posteriormente se

comparó las propiedades de dos técnicas de depósito de CdTE tales como Erosión catódica y sublimación en espacio cercano además se trabajó en la

influencia de Tratamientos Térmicos con CdCl2 preparado con etanol sobre las características de películas delgadas de CdS/CdTe. La Caracterización de

películas delgada de CdTe crecidas por la técnica de Sublimación en Espacio Cerrado combinada con rotación de Sustrato por sus siglas en inglés (CSSSR),

sobre sustratos de CdS/ITO previamente depositado el CdS mediante Baño Químico (CDB) sin agitación. Las condiciones de depósito de CdTe fueron:

Presión base de 1x10-6 mTorr, la temperatura del contenedor de Figura fue de 650°C y por radiación del sustrato alcanza los280°C, la distancia fuente-sustrato

de 5.0 mm, rotación del sustrato de 1025 rpm y el tiempo de deposición 10 min. Se realizó la caracterización morfológica a través de AFM y rayos.x, identificación

de grano y rugosidad por medio del WSxM SPM Software. La difracción de rayos-x fue utilizada para identificar la estructura cristalina y se encontró que las películas

muestran una estructura cristalina cubica con una orientación espacial (111), un grano compactado con un crecimiento uniforme. Después de esto se llevó a cabo

el tratamiento térmico en una mufla a 450 °C [1] por un periodo de 30 min,

procediendo a la caracterización ya mencionada para su comparación, cambiando su morfología después del TT

Thin films were deposited on glass substrates CdS /ITO (slide / indium tin) by using chemical bath deposition (CBD) technique without a

Fecha de publicación

noviembre de 2014

Tipo de publicación

Tesis de doctorado

Licencia

http://creativecommons.org/about/cc0/

Nivel de Acceso

openAccess

Idioma

Español

Formato

application/pdf

Repositorio Orígen

Fuente de Objetos Científicos Open Access

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