Título

OPTICAL CHARACTERIZATION OF SILICON RICH OXIDE FILMS

Autor

ALFREDO MORALES SANCHEZ

MARIANO ACEVES MIJARES

Nivel de Acceso

Acceso Abierto

Resumen o descripción

SRO films obtained by LPCVD have shown a strong visible photoluminescence (PL) after annealed

at 1100°C. Since these materials are robust and efficient, they have shown having potential applications in

optoelectronics. Structural and optical studies on these materials were carried out. The results suggest that the

emission can be related to defects surrounding the Silicon c1usters and nanocrystals.

Fecha de publicación

2006

Tipo de publicación

Memoria de congreso

Versión de la publicación

Versión enviada

Formato

application/pdf

Idioma

Inglés

Repositorio Orígen

Fuente de Objetos Científicos Open Access

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