Título

ANALISIS DE PATRONES DE DIFRACCION POR HAZ RASANTE UNIDIMENSIONAL Y BIDIMENSIONAL DE PELICULAS DELGADAS Pb (Zr0.52Ti0.48)O3 SINTETIZADAS POR DEPÓSITO QUÍMICO DE VAPOR ASISTIDO POR AEROSOL

Autor

JUAN RAMOS CANO

LUIS EDMUNDO FUENTES COBAS

MARIO MIKI YOSHIDA

ABEL HURTADO MACIAS

WILBER ANTUNEZ FLORES

Nivel de Acceso

Acceso Abierto

Licencia

http://creativecommons.org/about/cc0/

Materias

Ferroeléctricos - (DEPOSITACIÓN QUIMICA DE VAPOR ASISTIDA POR AEROSOL) BIOLOGÍA Y QUÍMICA - (CTI) QUÍMICA - (CTI) QUÍMICA FÍSICA - (CTI) OTRAS - (CTI)

Resumen o descripción

Patrones de difracción con incidencia rasante de rayos-X unidimensional y bidimensional

(2D) correspondientes a películas delgadas Pb(Zr.52Ti.48)O3 depositadas mediante el

método CVD-AA fueron analizados con el objetivo de conocer su evolución estructural.

Las películas fueron tratadas térmicamente (recocido) con diferentes tiempos de

permanencia en una atmósfera rica en Pb. Los patrones 2D fueron obtenidos en el

sincrotrón de Stanford y analizados con el programa ANAELU. Antes del recocido,

difractogramas correspondiente a fases intermedias (pirocloro) fueron identificados.

Después del recocido, los difractogramas mostraron picos más afilados correspondientes a

la fase perovskita característica de estos materiales ferroeléctricos.

Fecha de publicación

2012

Tipo de publicación

Memoria de congreso

Versión de la publicación

Versión enviada

Recurso de información

http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/1707

Formato

application/pdf

Idioma

Inglés

Repositorio Orígen

Fuente de Objetos Científicos Open Access

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